创新的良率管理 & 数据分析解决方案

WebSemi 良率管理系统 提供了一个灵活的、一站式的半导体良率数据管理和数据分析解决方案,适用于无晶圆厂的半导体公司, IDMs (整合元件制造商) 半导体公司,以及半导体外包的封装测试工厂。

能够管理半导体制造过程中的各个阶段测试数据,从 WAT/PCM、CP 到 FT 测试的全方面数据。 WebSemi 具有强大的数据追溯能力,以及跨半导体制造的所有阶段测试数据的分析能力, 用户可以随意做共性分析、相关分析以及回归分析等。

即时数据分析功能, 允许用户在任何时候对数据进行统计分析,对测试数据进行统计汇总、数据可视化和方差分析等。

面向企业的系统架构,灵活的系统架构方便部署, 可以根据业务规模轻松扩展。

面向企业的系统架构

灵活的软件架构,可以根据企业业务规模进行灵活部署。 软件部署方案可以涵盖从简单的 ALL-IN-ONE 部署方案到高性能群集部署方案。

无缝的数据集成

系统可以与客户的数据系统及其供应链系统数据进行无缝整合,自动进行采集及导入新数据。

数据文件格式兼容性

原生支持 STDF 格式的测试数据文件,同时我们也提供数据文件格式转换服务,完全支持各种非标准数据文件导入。

向用户开放数据访问 API,允许用户开发数据处理和自动分析、报表等应用。

数据的可视化

完美的以 Wafer Map 以及 DUT Map 方式展示 SoftBin,HardBin 以及数值型测试数据,并支持对这些数据以堆叠的形式展示 Wafer Map 以及 DUT Map。

数据统计分析

简单方便地进行良率汇总、分析,识别主要失效项,以及多种数据分析图表,趋势图、条形图、帕累托图、直方图、散点图、箱线图和概率图等。 能够进行回归分析以及方差分析等。

统计良率控制

基于统计分析方法,系统提供 SYL/SBL 良率监控方法,对产品测试良率以及 SoftBin、HardBin 失效率进行监控。 异常测试结果将通过邮件系统及时发送给用户。