創新的良率管理 & 數據分析解決方案

WebSemi 良率管理系統 提供了壹個靈活的、壹站式的半導體良率數據管理和數據分析解決方案,適用於無晶圓廠的半導體公司, IDMs (整合元件制造商) 半導體公司,以及半導體外包的封裝測試工廠。

能夠管理半導體制造過程中的各個階段測試數據,從 WAT/PCM、CP 到 FT 測試的全方面數據。 WebSemi 具有強大的數據追溯能力,以及跨半導體制造的所有階段測試數據的分析能力, 用戶可以隨意做共性分析、相關分析以及回歸分析等。

即時數據分析功能, 允許用戶在任何時候對數據進行統計分析,對測試數據進行統計匯總、數據可視化和方差分析等。

面向企業的系統架構,靈活的系統架構方便部署, 可以根據業務規模輕松擴展。

面向企業的系統架構

靈活的軟件架構,可以根據企業業務規模進行靈活部署。 軟件部署方案可以涵蓋從簡單的 ALL-IN-ONE 部署方案到高性能群集部署方案。

無縫的數據集成

系統可以與客戶的數據系統及其供應鏈系統數據進行無縫整合,自動進行采集及導入新數據。

數據文件格式兼容性

原生支持 STDF 格式的測試數據文件,同時我們也提供數據文件格式轉換服務,完全支持各種非標準數據文件導入。

向用戶開放數據訪問 API,允許用戶開發數據處理和自動分析、報表等應用。

數據的可視化

完美的以 Wafer Map 以及 DUT Map 方式展示 SoftBin,HardBin 以及數值型測試數據,並支持對這些數據以堆疊的形式展示 Wafer Map 以及 DUT Map。

數據統計分析

簡單方便地進行良率匯總、分析,識別主要失效項,以及多種數據分析圖表,趨勢圖、條形圖、帕累托圖、直方圖、散點圖、箱線圖和概率圖等。 能夠進行回歸分析以及方差分析等。

統計良率控制

基於統計分析方法,系統提供 SYL/SBL 良率監控方法,對產品測試良率以及 SoftBin、HardBin 失效率進行監控。 異常測試結果將通過郵件系統及時發送給用戶。