系统可以与客户的数据系统及其供应链系统数据进行无缝整合,自动进行采集及导入新数据。 原生支持 STDF 格式的测试数据文件,同时我们也提供数据文件格式转换服务,完全支持各种非标准数据文件导入。 向用户开放数据访问 API,允许用户开发数据处理和自动分析、报表等应用。
原生地支持 STDF 测试数据格式,自动的处理 STDF 数据文件,从中提取测试良率、SoftBin、HardBin以及数值型测试数据等。
开放式的数据访问 API,允许客户自行开发处理数据文件、自动分析以及报表等应用。
并行的数据处理与导入,充分利用多核心系统资源,极大提高数据导入通量。
简单方便地进行良率汇总、分析,识别主要失效项,以及多种数据分析图表,趋势图、条形图、 帕累托图、直方图、散点图、箱线图和概率图等。能够进行回归分析以及方差分析等。 完美的以 Wafer Map 以及 DUT Map 方式展示 SoftBin,HardBin 以及数值型测试数据, 并支持对这些数据以堆叠的形式展示 Wafer Map 以及 DUT Map。
箱线图用于趋势分析以及变异性分析。
即时直方图和正则概率图用于数据分布分析。
SoftBin 帕累托图用于分析主要失效项,并支持按类别分组比较.
散点图以及散点矩阵图用于相关性分析、以及多元线性回归分析,支持 WAT/PCM、CP以及FT组间交叉分析。
趋势图提供良率、测试时间、SoftBin失效率、HardBin失效率以及数值型参数趋势分析。
分组汇总提供良率、测试时间、SoftBin失效率、HardBin失效率的分析以及分组对比分析。
用于数据展示的 Wafer Mapping、DUT Mapping 及其堆叠图提供 SoftBin 以及数值型参数分析。
灵活的软件架构,可以根据企业业务规模进行灵活部署。软件部署方案可以涵盖从简单的 ALL-IN-ONE 部署方案到高性能群集部署方案。 基于统计分析方法,系统提供 SYL/SBL 良率监控方法,对产品测试良率以及 SoftBin、HardBin 失效率进行监控。 异常测试结果将通过邮件系统及时发送给用户。
为大数据而准备的面向企业的软件架构,系统架构采用数据库集群系统和计算机集群文件系统的协同存储的分布式数据存储方案。
多站点并行写入设计,单节点支持高达 16x 写入速度以满足大量数据写入以及存储需求。
系统支持灵活的系统配置,支持部署最小化 ALL-IN-ONE 单机部署。对于大规模数据,系统支持负载平衡系统体系结构,提供数据库服务器、应用服务器、缓存服务器的集群配置,以提供高效稳定的服务。
灵活的 SYL/SBL 良率监控设置,接入企业邮件系统,提供实时的邮件通知和提醒,并提供基于邮件系统的每日 SYL/SBL 报表、良率汇总报表。